活动简介
第四届电子元器件辐射效应国际会议（ICREED-2021）将于2021年5月26日至29日在中国西安举行。会议由一系列特邀报告、技术报告、海报展示和产品展示组成，内容涵盖电子元器件与电子系统在空间及核辐射环境中应用的辐照效应、抗辐照加固技术、辐照测试和辐射效应建模等相关领域方面的最新进展及成就，同时，国内外知名厂商将进行技术和产品展示。会议将为来自世界各地的辐射效应及相关领域的专家、学者、工程师、项目经理和学生提供交流平台。
征稿信息
重要日期
2021-02-01
初稿截稿日期
征稿范围
会议征文内容包括但不限于以下范围：
电子材料与器件辐射效应的基本机制
辐射对光电子器件和电路的影响
空间和地面辐射效应
加固保证和测试技术
空间系统新概念
全部留言
重要日期
-
会议日期
05月26日
2021
至05月29日
2021
-
02月01日 2021
初稿截稿日期
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05月29日 2021
注册截止日期
主办单位
西安交通大学
联系方式
- Mr. 组委会
- ic******@xjtu.edu.cn
历届会议
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2027年08月11日 中国 Harbin
7th International Conference on Radiation Effects of Electronic Devices -
2025年04月16日 中国 Yangzhou
2025 6th International Conference on Radiation Effects of Electronic Devices (ICREED) -
2015年10月19日 中国 哈尔滨市
电子元器件辐射效应国际会议
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