会议论文征文范围（但不限于该范围）

1.测试理论与技术： A. 数字电路测试 B. 模拟/射频电路与电磁兼容测试 C. 集成电路验证与硅后调试 D. 故障诊断 E. 软件测试与软件可靠性 F. 安全攸关缺陷的程序分析与验证 G. 测试系统与测试平台

2.容错计算： A. 可靠性与安全性度量和评估体系 B. 可靠性设计 C. 高端容错计算系统 D. 面向特定行业的容系错统 E. 云计算可靠性 F. 容灾与备份

3.可信计算 A. 可信计算理论 B. 可信与安全芯片 C. 可信网络 D. 可信软件 E. 可信系统

4.硬件安全 A. 集成电路安全隐患建模与验证 B. 硬件木马检测与防护 C. 不可克隆函数 D. IoT安全

5.新工艺/器件可靠性与新计算模型 A. 碳纳米管等新纳米工艺可靠性 B. 忆阻/自旋/超导等器件可靠性 C. 近似计算

6.测试、容错、可信技术的应用