The IEEE North Atlantic Test Workshop provides a forum for discussions on the latest issues relating to high quality, economical, and efficient test methodologies and designs. In addition to traditional topics, the 26th NATW will feature a general theme of "Synthesis and Reliability."
Analog, Mixed Signal and RF Testing
Built-In Self-Test (BIST)
Board Level Testing
Delay and Performance Testing
Design Verification/Validation
Diagnosis and Debug
Fault Modeling/Simulation
FPGA and Embedded Core Testing
IDDQ Testing
DFM, Defect Analysis and Defect-Based Testing
Memory and MEMS Testing
Nanotechnology Testing
Online Testing
System-on-Chip (SoC) Test and Debug
Test Quality/System Reliability.
05月08日
2017
05月10日
2017
摘要截稿日期
初稿截稿日期
初稿录用通知日期
终稿截稿日期
注册截止日期
2018年05月07日 美国
2018 IEEE 27th North Atlantic Test Workshop2015年05月11日 美国
2015年IEEE第24届北大西洋测试研讨会(NATW 2015)2014年05月14日 美国
2014 IEEE第23届北大西洋测试研讨会(NATW 2014)2013年05月08日 美国
2013 IEEE第22届北大西洋测试研讨会(NATW 2013)
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